半导体和纳米技术

随着finFET、纳米片和其他结构的创新，逻辑器件变得越来越复杂，对计量的需求也随之增加。我们的解决方案支持了这些设备的开发和生产，包括用于复杂3D epi的HRXRD和XRR测量，以及用于纳米片形状的AFM测量。

maxbet手机客户端下载Bruker HRXRD / XRR系统是表征Si和SiC上GaN等先进动力系统的首选系统。它们被用于世界各地的生产线，用于测量薄膜厚度、成分和质量，以确保为布鲁克客户的高产量。maxbet手机客户端下载

从手机到笔记本电脑和高端服务器，所有设备都有不同种类的内存。这些产品包括DRAM、3D-NAND和更晚的相变存储器(如XPoint)和MRAM。maxbet手机客户端下载Bruker使用一系列x射线系统和技术来表征薄膜的关键参数:从厚度、组成到形状轮廓。

maxbet手机客户端下载Bruker(之前是Bede和Jordan Valley)是x射线衍射成像(XRDI)的先驱，它可以识别导致晶圆破裂的缺陷。这已扩展到其他衬底中影响成品率的缺陷。maxbet手机客户端下载Bruker还提供TXRF系统，用于识别Si和SiC衬底上的金属污染，这对生产线产量至关重要。

maxbet手机客户端下载Bruker为触控面板和显示制造提供优秀的生产计量

控制集成电路和电子元件的组成和厚度是提高其可靠性和功率效率的关键。maxbet手机客户端下载Bruker提供快速和非破坏性的分析解决方案，以确定设备及其层组成和厚度，也需要筛查危险材料。

maxbet手机客户端下载Bruker的元素分析仪、光学和原子力显微镜以及x射线测量解决方案可提供epi层、图纹蓝宝石基片以及光电器件的精确和可重复测量。配备了先进的自动化能力，我们的设备提供了最佳生产监控和新设备开发所需的关键答案。

射频设备是最新5G通信设备的核心。maxbet手机客户端下载Bruker通过x射线衍射(XRD)对epi薄膜进行了表征，并对用于BAW / SAW滤波器的压电材料的材料相和组成进行了分析。

maxbet手机客户端下载Bruker的FT-IR仪器在世界范围内被用于表征和研究新型半导体材料。例如声子光谱、红外光致发光、异质结构和带隙的研究。

maxbet手机客户端下载布鲁克的精确计量技术为太阳能研究和过程控制提供了动力

maxbet手机客户端下载Bruker有一系列用于晶圆级封装的系统。利用微- xrf技术可以实现单个凸点的成分测量和凸点下金属的厚度。